產(chǎn)品中心
PRODUCTS CENTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心表面分析飛行時間二次離子質譜儀
產(chǎn)品分類
飛行時間二次離子質譜儀PHI nano TOF3+，先進的多功能TOF-SIMS具有更強大的微區(qū)分析能力，更加出色的分析精度
更新時間：2024-09-12
產(chǎn)品型號：PHI nano TOF3+
瀏覽量：3497
掃一掃，關注公眾號
服務電話：
021-34685181
上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602室
wei.zhu@shuyunsh.com
相關文章